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ソフトウェアの欠陥の質を可視化し改善を促すための欠陥分析手法
ODC分析の特徴
統計的分析 原因分析
• 履歴データとの比較
• 成長曲線モデル
限定・特定不具合の調査
パレート図・管理図… RCA(なぜなぜ分析)
原因の深堀りに至りづらい
データの量が必要 多大な労力・コストがかかる
全体の把握には向かない
ODC
分析手法
個々の不具合の意味論を定量的に捉え、
プロセスの進歩と品質成熟への橋渡し
全体の傾向・偏りを定量的に把握
300件程度で分析が可能
初出
Ram Chillarege Inderpal S. Bhandari, Michael J. Halliday, etc. :
"Orthogonal Defect Classification - A concept for In-process
Measurement", IBM Thomas J. Watson Research Center IEEE
Transactions on Software Engineering. Vol.18. No.11. Nov. 1992.
杉崎 眞弘 他 (著)
日科技連出版社
目的
テスト活動のアウトプット(欠陥)を分析し、品質や開発
プロセスの改善を促す情報を得る