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Slide 6 text
F 値に似た Lee-Liu metric と呼ばれる評価指標がある
適合率と再現率の幾何平均の二乗の定数倍で表される
評価指標 実ラベル
Y
混同行列
(confusion matrix)
正常
pos: +1
異常
neg: -1
予測ラベル
f(X)
正常
pos: +1
true
positive
(tp)
false
positive
(fp)
異常
neg: -1
false
negative
(fn)
true
negative
(tn)
Lee, W. S, and Liu, B., "Learning with positive and unlabeled examples using weighted Logistic Regression,"
In Proceedings of ICML, pp. 448-455, 2003.
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