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20250226 presentation

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February 26, 2025
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20250226 presentation

2025/02/26 QA Tips LT会 - vol.3
プレゼン資料

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February 26, 2025
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Transcript

  1. 弊社のスクラムチームのスプリント スプリント 開発エンジニア 単体テスト(UT) QAエンジニア 結合テスト(IT) QAエンジニア 総合テスト(ST) 1週間(通常5営業日) 開発

    UT プラ ンニ ング テスト設計 レビュー IT ST テスト設計 レビュー 総合テストは改修確認を含め スプリント終了期限までに終了基準を満たせるよう稼動させる 単体テストの終了基準を満たしたら ・結合テストが始められる 結合テストの終了基準を満たしたら ・総合テストが始められる プランニングで仕様が固まったら ・開発が始まる ・IT/STのテスト設計が始まる
  2. 定量的な品質管理をする上でテスト品質を可視化する手法 ゾーン分析とは? ゾーン8 ゾーン5 ゾーン6 ゾーン7 ゾーン1 ゾーン2 ゾーン9 ゾーン3

    ゾーン4 ↑ バグ密度 (件 / KSLOC) ケース密度(件 / KSLOC) → テスト密度とバグ密度の指標を分析するために 2次元座標上に3×3のゾーンを設定する 基準値(下限) 基準値(上限) 基準値(上限) 基準値(下限)
  3. 測定の準備 (※)ソフトウェア開発データ白書 2018-2019 情報通信業編「 7.5.8.SLOC規模あたりのテストケース数、検出バグ数:全開発種別」に掲載された値 測定期間 2024年7月から1ヶ月単位(4〜5スプリント分の合算) 開発ソースコード行数 各スプリントでコーディングされたソースコードの増分(行数) テスト密度を算出するテスト数

    各スプリントのIT/STで実施されたテストケース数 バグ密度を算出するバグ数 各スプリントのIT/ST期間内で検出されたバグ数 ゾーンの基準値(下限/上限) 上限:IPA発行資料(※)の基本統計量(P75)の値 下限:IPA発行資料(※)の基本統計量(P25)の値
  4. 結果(2024年7月) ケース密度 測定結果 最小値(※) P25(※) 中央値(※) P75(※) 最大値(※) IT 59.86

    0.6 38.2 59.9 106.4 1513.5 ST 58.74 0.5 8.3 17.3 33.7 108.1 バグ密度 測定結果 最小値(※) P25(※) 中央値(※) P75(※) 最大値(※) IT 0.15 0.00 0.55 1.21 2.64 27.03 ST 1.58 0.00 0.01 0.12 0.68 7.14 (※)各ベンチマーク値:ソフトウェア開発データ白書 2018-2019 情報通信業編「 7.5.8.SLOC規模あたりのテストケース数、検出バグ数:全開発種別」より引用。
  5. 結果(それから半年後) ケース密度 測定結果 最小値 P25 中央値 P75 最大値 IT 97.11

    0.6 38.2 59.9 106.4 1513.5 ST 60.95 0.5 8.3 17.3 33.7 108.1 バグ密度 測定結果 最小値 P25 中央値 P75 最大値 IT 8.68 0.00 0.55 1.21 2.64 27.03 ST 0.99 0.00 0.01 0.12 0.68 7.14