túnel de barrido (STM) Microscopia túnel de barrido (STM) Gerd Binnig Gerd Binnig, , Heinrich Rohrer Heinrich Rohrer, Christoph Gerber, Edmund Weibel , Christoph Gerber, Edmund Weibel Phys. Rev. Lett. Phys. Rev. Lett. 49 49, 57 (1982). , 57 (1982). IBM IBM- -Zurich. Zurich. NF 1986 (con Ernst Ruska) NF 1986 (con Ernst Ruska). . Microscopía de fuerza atómica (AFM) Microscopía de fuerza atómica (AFM) Gerd Binnig, Christoph Gerber, Calvin Quate (Stanford), 1985. Gerd Binnig, Christoph Gerber, Calvin Quate (Stanford), 1985. Phys. Rev. Lett. Phys. Rev. Lett. 56, 56, 930 (1986). Fuerza de 10 930 (1986). Fuerza de 10- -18 18 N, sin daño superficial. N, sin daño superficial. AFM AFM mide la fuerza de la interacción entre la muestra y la sonda, a mide la fuerza de la interacción entre la muestra y la sonda, a través través de las desviaciones de un haz láser que se refleja en el soporte de las desviaciones de un haz láser que se refleja en el soporte de la punta. de la punta. Permite estudiar materiales conductores, aislantes y semiconduct Permite estudiar materiales conductores, aislantes y semiconductores. ores. - - Modo de contacto (Pauli). Aparecen Modo de contacto (Pauli). Aparecen fuerzas laterales sobre la muestra. fuerzas laterales sobre la muestra. - - Modo oscilante ( Modo oscilante (tapping tapping). M ). Minimiza la fuerza lateral, mejor topografía. inimiza la fuerza lateral, mejor topografía. - - Modo de no contacto (>1 nm, vdW): Modo de no contacto (>1 nm, vdW): problema con capilaridad problema con capilaridad → → contacto. contacto. Número creciente de aplicaciones en metales, semiconductores, cerámicas, recubrimiento, vidrios, polímeros, membranas biológicas y sintéticas,